[ 楊志敏 ]——(2012-2-9) / 已閱19745次
實(shí)質(zhì)相同判斷標(biāo)準(zhǔn)就是權(quán)利要求記載的構(gòu)成與被控侵權(quán)物之間的非實(shí)質(zhì)差異標(biāo)準(zhǔn)。在這一標(biāo)準(zhǔn)上，德國采用基于技術(shù)特征比較的同一效果性+基于發(fā)明技術(shù)思想的實(shí)質(zhì)含義的等同解決手段(可簡(jiǎn)稱為發(fā)明技術(shù)思想的實(shí)質(zhì)含義)標(biāo)準(zhǔn)，即同一效果性要件+發(fā)明技術(shù)思想的實(shí)質(zhì)含義要件。
相比之下，我國采用的實(shí)質(zhì)相同判斷標(biāo)準(zhǔn)是基于技術(shù)特征比較的功能-手段-效果三重檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)，其具體構(gòu)成是：替換技術(shù)特征上的基本相同的功能要件+基本相同的手段要件+基本相同的效果要件。[36]其中，功能-效果雙重要件與德國的同一效果性要件具有一致性。但是，我國判斷標(biāo)準(zhǔn)中的基本相同的手段要件與德國判斷標(biāo)準(zhǔn)中的發(fā)明技術(shù)思想的實(shí)質(zhì)含義要件有差異。對(duì)基本相同的手段要件的判斷局限于對(duì)單一技術(shù)特征的對(duì)比，即僅僅要求被控侵權(quán)物中替換的技術(shù)特征在解決發(fā)明的相同技術(shù)問題時(shí)有著與權(quán)利要求中被替換的技術(shù)特征實(shí)質(zhì)一致的工作方式；而德國在認(rèn)定發(fā)明技術(shù)思想的實(shí)質(zhì)含義時(shí)，雖然其對(duì)比的對(duì)象也置于技術(shù)特征的對(duì)比上，但在作具體判斷時(shí)并不拘泥于權(quán)利要求中某個(gè)或某幾個(gè)技術(shù)特征的文義記載，而是從權(quán)利要求的整體記載出發(fā)并參考說明書來進(jìn)行認(rèn)定，以確保替換的技術(shù)特征不影響或者不改變專利發(fā)明的技術(shù)思想。這點(diǎn)對(duì)我國有重大的啟示作用。因?yàn)閮H做單一的技術(shù)特征對(duì)比有可能導(dǎo)致出現(xiàn)依照功能-手段-效果標(biāo)準(zhǔn)判斷適用的等同技術(shù)方案與專利技術(shù)不同的結(jié)果，這在合金、半導(dǎo)體或者化工領(lǐng)域表現(xiàn)得尤為突出。例如，權(quán)利要求=A+B+C，被控侵權(quán)物=A+B,+C，用功能-手段-效果標(biāo)準(zhǔn)來判斷時(shí)，雖然可得出B,與B等同的結(jié)論，但A+B,+C有可能是與A+B+C不相同的結(jié)晶物、半導(dǎo)體或者化合物。因此，我國在堅(jiān)持功能-手段-效果三重檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)的同時(shí)，在必要的時(shí)候還應(yīng)當(dāng)采用德國的發(fā)明技術(shù)思想的實(shí)質(zhì)含義要件進(jìn)行適當(dāng)?shù)男Ｕ�。如果能這樣，那么我國就確立了二元性的實(shí)質(zhì)相同判斷標(biāo)準(zhǔn)：功能-手段-效果三重檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)及功能-手段-效果三重檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)+發(fā)明技術(shù)思想的實(shí)質(zhì)含義要件標(biāo)準(zhǔn)。
必須指出的是，德國的發(fā)明技術(shù)思想的實(shí)質(zhì)含義要件是建立在技術(shù)特征對(duì)比的基礎(chǔ)之上的。因此，德國法院主張專利等同原則也適用于從屬專利中，但否定不完全實(shí)施的專利等同原則適用。這些符合權(quán)利要求的公示與警示要求，對(duì)我國也有啟示作用。[37]
2.聯(lián)想容易性判斷標(biāo)準(zhǔn)
聯(lián)想容易性判斷標(biāo)準(zhǔn)帶有較濃厚的主觀色彩。在該標(biāo)準(zhǔn)的達(dá)成上，德國強(qiáng)調(diào)不需要本領(lǐng)域普通技術(shù)人員的創(chuàng)造性思維，只要求本領(lǐng)域普通技術(shù)人員依據(jù)自己的知識(shí)或者最多做簡(jiǎn)單的試驗(yàn)后就能知其可置換性和可實(shí)施性即可�？梢�，置換的容易程度是設(shè)在新穎性和比新穎性略高但又比創(chuàng)造性的水平明顯要低的水準(zhǔn)范圍之內(nèi)。這點(diǎn)對(duì)我國也有很大的啟示作用。
在該標(biāo)準(zhǔn)的適用上，我國的替換特征是指本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員無需經(jīng)過創(chuàng)造性勞動(dòng)就能夠聯(lián)想到的特征，[38]即把替換的聯(lián)想性判斷標(biāo)準(zhǔn)置于無創(chuàng)造性的范圍。這有要求過高之嫌。因?yàn)閷＠麢?quán)利要求的警示作用是建立在發(fā)明所屬領(lǐng)域的普通技術(shù)人員依據(jù)自己的專業(yè)知識(shí)在閱讀專利權(quán)利要求書和說明書之后一般都能預(yù)見自己利用相應(yīng)技術(shù)是否會(huì)構(gòu)成侵權(quán)的基礎(chǔ)之上的。如果采用完全的創(chuàng)造性判斷，那么發(fā)明所屬領(lǐng)域的普通技術(shù)人員中多數(shù)人會(huì)因不懂得創(chuàng)造性的判斷方法而不能對(duì)自己實(shí)施的行為作出預(yù)先的合法性判斷，從而承擔(dān)不能回避侵權(quán)行為的不利益。這既削弱了權(quán)利要求的警示功能，又破壞了專利權(quán)人與公眾之間的利益平衡。因此，對(duì)我國的替換的聯(lián)想性標(biāo)準(zhǔn)的解釋應(yīng)該限定在無新穎性和明顯無創(chuàng)造性的范圍之內(nèi)。
當(dāng)然，發(fā)明所屬領(lǐng)域的普通技術(shù)人員對(duì)某一問題的認(rèn)知程度是與自己所具有的技術(shù)水平相關(guān)聯(lián)的。一般而言，普通技術(shù)人員的技術(shù)水平會(huì)隨著時(shí)間的推移而不斷提升。因此，以何時(shí)的技術(shù)水平為標(biāo)準(zhǔn)來判定聯(lián)想容易性就顯得非常重要。我國法院的普遍做法是將侵權(quán)發(fā)生時(shí)的技術(shù)水平作為該聯(lián)想性標(biāo)準(zhǔn)的判斷前提，即采用侵權(quán)發(fā)生時(shí)說。但是，德國法院對(duì)待該問題的態(tài)度并不十分明確，以申請(qǐng)時(shí)說或優(yōu)先權(quán)日說為優(yōu)勢(shì)學(xué)說。應(yīng)該說，采用侵權(quán)發(fā)生時(shí)說更有利于保護(hù)專利權(quán)；同時(shí)又采用聯(lián)想容易性標(biāo)準(zhǔn)限定專利等同的范圍就不會(huì)損害公眾基于對(duì)權(quán)利要求記載的信賴而產(chǎn)生的自我約束力，從而維護(hù)權(quán)利要求記載的法律穩(wěn)定性。
(二)關(guān)于專利等同原則適用的消極判斷標(biāo)準(zhǔn)
專利等同原則適用的消極判斷標(biāo)準(zhǔn)實(shí)質(zhì)涉及以下兩個(gè)方面：
1.現(xiàn)有技術(shù)抗辯
德國現(xiàn)有技術(shù)抗辯采用的方法是將被控侵權(quán)物與現(xiàn)有技術(shù)相比較并審查其是否具有專利性(新穎性和創(chuàng)造性的審查)，并以此判斷被控侵權(quán)物是否屬于現(xiàn)有技術(shù)。
我國現(xiàn)有技術(shù)抗辯與德國現(xiàn)有技術(shù)抗辯的相同點(diǎn)是：(1)對(duì)比的對(duì)象相同。兩國都將被控侵權(quán)物與現(xiàn)有技術(shù)相比。(2)舉證責(zé)任相同。兩國都要求被控侵權(quán)人承擔(dān)現(xiàn)有技術(shù)證據(jù)的提供責(zé)任和證明責(zé)任。但是，兩國在現(xiàn)有技術(shù)抗辯的適用范圍方面存在巨大的差異。在將被控侵權(quán)物與現(xiàn)有技術(shù)進(jìn)行比較時(shí)，我國審查的范圍只限于新穎性，而不審查創(chuàng)造性。[39]
本來，現(xiàn)有技術(shù)抗辯是建立在這樣的思維之上的：既然在相對(duì)于申請(qǐng)日之前的現(xiàn)有技術(shù)不具有新穎性和創(chuàng)造性的技術(shù)范圍內(nèi)專利權(quán)不成立，那么專利侵權(quán)也不成立。但是，我國現(xiàn)有技術(shù)抗辯只涉及新穎性范圍的判斷，過于狹窄，顯然不符合專利法的基本原理。因此，筆者主張我國現(xiàn)有技術(shù)抗辯的審查范圍應(yīng)該逐步過渡到與德國一致的范圍：鑒于我國法官暫時(shí)存在所謂素質(zhì)問題，可先在無新穎性和明顯無創(chuàng)造性方面允許采用現(xiàn)有技術(shù)抗辯，然后過渡到在無新穎性和無創(chuàng)造性的范圍允許采用現(xiàn)有技術(shù)抗辯。[40]
2.禁反悔
如上所述，禁反悔原則始終未能在德國得到真正且全面的確認(rèn)。盡管如此，我們也不能完全排除審查檔案在德國專利等同解釋中的參考作用：出于當(dāng)事人之間的信義關(guān)系，專利權(quán)人不能在侵權(quán)訴訟中對(duì)過去的異議人主張當(dāng)初已放棄的對(duì)象進(jìn)入專利等同范圍。相反，禁反悔在我國已經(jīng)作為專利等同成立的對(duì)抗要件來適用，這是我國借鑒美國、日本等國做法之后的司法選擇，但具體適用法則還有待在司法實(shí)踐中完善。
注釋:
[1]D er Schut zbereich d es Pat en t s u nd der Pat ent anmeldung w ird du rch die Pat ent ans pr ch e bes tim mt.D ie Bes chreibung und die Zei chnu ngen sin d jedoch zur A usl egun g der Pat ent anspr che heran zuziehen.
[2]V gl.Ballhaus&Si kinger:D er Sch ut zumf an g des Pat ent s nach 14 PatG,GR U R 1986,S.337.
[3]V gl.BG H,seq-Bierkl rm itt el,G RU R 1984,S.425.
[4]V gl.BG H,seq-Bef est igungsvorricht ung,G RU G 1987,S.280;BG H,s eq-Ionenan aly se,G RU G 1988,S.896;BGH,seq-Bat t eriekast ens chnu r,GR U G 1989,S.903.
[5]Vgl.BG H,seq-Form st ein,G RU R 1986,S.803;BG H,seq-Ionenan aly se,G RU R 1988,S.896;BG H,seq-S chw ermet all ox ydat ions-K at aly sat or,G RU R 1989,S.205-208.
[6]V gl.BG H,seq-Formst ein,G R U R 1986,S.803;BG H,s eq-Ion enanal yse,G R U R 1988,S.896.
[7]BG H,seq-Schnei dmes ser,G R U R 2002,S.515;BG H,s eq-S chn eidmesser,GR U R 2002,S.519;BG H,seq-Baum scheib enabdeckung,G R U R 2006,S.311.
[8][12]V gl.BG H,seq-Ionenan alys e,G RU R 1988,S.896.
[9][11][18]BGH,seq-Form st ein,G RU R 1986,S.803.
[10]BG H,seq-Schw erm et al loxidati on s-K at alysat or,GR U R 1989,S.205.
[13] BG H,seq-Ionen analys e,G RU R 1988,S.896;BG H,s eq-S chn eidmesser,GR U R 2002,S.515.
[14]BG H,seq-Schw erm et al loxydation s-K at alysat or,G RU R 1989,S.205;BGH,seq-Bat t eriek ast enschnur,G RU R 1989,S.904;BG H,s eq-Schn eidmesser,G RU R 2002,S.515.
[15] BG H,seq-Schneidmes ser,G R U R 2002,S.515.
[16]V gl.BG H,seq-Zierfalt en,GR U R 1965,S.231;BG H,seq-K ont ak tf ederbl ock,G RU R 1999,S.914.
[17[22]]V gl.BG H,seq-K ont akt federb lock,G RU R 1999,S.914.
[19][日]V olker V oss ius:德國專利保護(hù)范圍的確定(權(quán)利要求的解釋),載青山葆、木棚照一編:國際專利侵權(quán)專利糾紛處理的比較法研究,日本東京布井出版社1996年版,第283-284頁。
[20]V gl.BG H X ZR 74/94,C V ol.30,N o.5/1999.S.558.
[21]BG H,seq-W ei chvorrich tu ng,GR U R 1993,S.88;BG H X ZR 73/95 Weichvorricht ung.
[23]V gl.BG H R G,seq-M ip ol am,G R U R 1938,S.706.
[24]V gl.BG H,seq-M et ronidazol,G RU R 1975,S.425.
[25]V gl.BG H,seq-S chaumst of fe,G RU R 1979,S.271.
[26]V gl.A lf red K eu ken schri jver-Bus se,Pat ent gesetz,5.A uf l.,14 Rdn 89,S.277;Pet er mes.Pat ent ges et z G ebrau chsm ust erges et z,1997,14 R dn 13;Brun ner,sic.1998,S.348.
[27]BG H,seq-Bef est igungsvorricht ung,G RU R 1991,S.436.
[28]V gl.BG H,seq-D rillm as chine,GR U R 1961,S.409;BG H,seq-Bef est igungsvorricht ung,G RU R 1991,S.436.
[29]這一問題的實(shí)質(zhì)又涉及如何對(duì)待獨(dú)立權(quán)利要求中多余技術(shù)特征的問題,該問題在我國通常稱為多余限定問題。
[30]V gl.BG H,seq-N obelt-Bun d,GR U R 1955,S.29;BG H,s eq-K on t erhauben-Sch rumpf syst em,G RU R 1985,S.520;BG H,s eq-Bef est igun gsvorricht un g,G R U G 1987,S.280.
[31]V gl.BG H,seq-/N obelt-Bund0,G RU R 1955,S.29;BG H,s eq-/S t andt ank0,G RU R 1962,S.575.
[32]V gl.BG H,seq-/A ut ow asch vorri cht ung0,G RU R 1991,S.444.
[33]V gl.BG H,seq-/Beheiz bar er-A t em luf t schl auch0,G RU R 1992,S.40.
[34]V gl.BG H,seq-/S chneidmesser?0,GR U R 2002,S.515;BG H,seq-/S chneidmes serò0,GR U R 2002,S.519;BG H,seq-/C ust odiolò0,GR U R 2002,S.527.
[35]V gl.BG H,seq-/Zerf allsz eit messger?t0,G RU R 2007,S.1059.
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